当前OLED项目寿命/长期残影测试主要依赖手动测试，逐天采集亮度与色坐标。主要存在三方面局限性：

1. 一方面工作量大，非自动化效率低下。

2. 由于依赖人工定位，导致每次测试点位有偏差，测试精度较低。

3. 数据采集点位少，仅1个点/天，无法刻画精细的老化曲线。

购置AMOLED寿命/长期残影测试设备，实现自动化、高定位精度以及全天候实时数据采集，以满足当前测试需求。

系统组成

1. 光谱仪

2. 整机寿命测试系统

3. Lifetime 测试软件

4. 视觉定位CCD系统

5. 激光位移传感器

6. 工业空调

7. 工业计算机

 系统特点

1. 测试项目：亮度、亮度衰减比、色度值(x, y, u')、色温值(Tc)、发光光谱、衰减时间、已测时间、测试温度、预估寿命等；

2. 可以显示每个工位在不同画面(白/红/绿/蓝)下亮度随时间衰减的曲线，支持随时输出测试数据到Excel报表中；

3. 可以将测试数据上传到本地服务器中随时进行查看（需要提供对应接口进行通讯）；

4. 测试中断和恢复：测试过程实时保存数据，测试暂停或软件意外退出，重启软件后仍可恢复原来的测量：

5. 测试时间间隔设定：可分成3个以上阶段设置，每个阶段可设定独立的测量时间间隔；

6. 测试结束条件设定：① 以测试时间进行设定; ② 以亮度衰减百分比进行设定

7. 测试过程中可以开始其他工位的测试，对当前正在测试的项目没有影响；

8. 软件实时备份测试数据，备份周期可以设定。