硅光电寿命测试机台提供了一种经济型的OLED器件寿命测试方式，但受限于硅光电对于可见光光谱的响应曲线与CIE的人眼视觉函数不能完全匹配，当器件在寿命衰减过程中光谱形状发生变化，或光谱波峰发生偏移时，其测得的相对亮度值就不在准确。
为了能测出OLED器件和亮度绝对值、色度和光谱在衰减过程中的变化，弗士达公司开发了光谱仪扫描式的OLED器件寿命测试方案。将分光辐射亮度计安装于XYZ自动移动轴上，分别扫描每个器件发光点的亮度色度和光谱数据，得到器件在寿命衰减过程中的亮度、色度和光谱随时间的变化曲线。

系统组成
1.FS-GA3机台，包括三轴直线移动控制模块
2.分光辐射亮度计
3.自动视觉对位工业相机
4.多通道定电压或定电流输出寿命测试电源；
5.多通道电压电流测量模块；
6.多套器件测试治具，可选常温或独立温控。
7.OLED器件寿命测量软件
8.工业计算机 

● 自动识别发光点位置

OLED器件Lifetime测试机台配备工业视觉对位相机，每次测量前自动扫描所有工位的OLED器件放置位置，自动识别OLED的中心点坐标和尺寸，无需用户手动对位，简化作业流程。

● 极高的电源输出电源测量精度
系统采用了Keithley3706A多路复用数字万用表，对所有通道的输出的电压、电流进行测量，同时软件可根据3706A测得的电压电流值来修正电源的输出，使电流的输出误差小于2uA。 

软件功能
1.亮度测量时间间隔设置：可设三个时间段，每个时间段可单独设置测量时间间隔。
2.可设置寿命截止亮度比例，当测量的亮度比例低于该值时，停止测量。
3.根据已测数据做出寿命预估。
4.预点亮产品:点击该按钮，所有选中测量的工位均按设定的电压或电流输出值进行点亮，用于测量前检查是否有点亮异常的产品
5.测量数据包括：测量时间，电压，电流，已测时长，亮度剩余比例，亮度值（cd/m2),色度x,y,u’,v’,CRI值。如果勾选了光谱测量，每次测量亮度时自动测量光谱数据，并独立保存成一个报表。